Die deutsche Übersetzung der Grabungs-tagebücher von Roland de Vaux - der ältesten Quelle zu den berühmten Ausgrabungen von Qumran - hält sich streng an das französische Original, das erstmals 1994 in NTOA Series Archaeologica samt einer photographischen Dokumentation und einer Gesamtliste des photographischen Fundus veröffentlicht wurde (siehe "Zum Thema"). Darüber hinaus enthält der Band eine Aufbereitung der in den Tagebüchern in der unsystematischenWeise der Fundgeschichte präsentierten Fakten in Form eines loci-orientierten Sachindex, zahlreicher Pläne und Detailskizzen, ausführlicher, systematisch geordneter Fundlisten und computergenerierter Münz-, Keramik- und Metallverzeichnisse und Tabellen, die zum Teil durch visualisierte Häufigkeitsverteilungen unterstützt sind. Eine fortlaufende Liste der Inventarnummern zu Qumran und EnFeschcha mit kurzer Fundcharakterisierung schließt den Band ab. Übersetzung und Informationsaufbereitung erschließen jetzt auch der deutschsprachigen Leserschaft die originalen Ausgrabungen von Qumran und sind zudem ein weiterer Schritt in deren sachlicher Auswertung und transparenten Darstellung. Die Autoren Roland de Vaux (1904-1971) war der hauptverantwortliche Ausgräber von Qumran und der erste Direktor der Veröffentlichung der Texte. Dr. theol. Ferdinand Rohrhirsch ist Wissenschaftlicher Assistent am Lehrstuhl für Praktische Philosophie und Geschichte der Philosophie an der Theologischen Fakultät in Eichstätt. Bettina Hofmeir ist Dipl.-Übersetzerin.

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1 Anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs).- 1.1 Einordnung der Semicustom-Schaltungen.- 1.2 Wirtschaftlichkeit.- 1.3 Anwendungsbereiche.- 2 Technologien.- 2.1 Bipolare Halbleiterprozesse.- 2.1.1 Schaltungsfamilien mit gesättigter Logik (TTL, I2L).- 2.1.2 Schaltungsfamilien mit ungesättigter Logik (LSTTL, STTL, ECL).- 2.2 MOS-Prozesse.- 2.2.1 MOS-Transistoren.- 2.2.2 CMOS-Transistoren und Grundschaltungen.- 2.3 Kombinierte und neuartige Halbleiterprozesse.- 2.3.1 BiCMOS - Bipolar kombiniert mit CMOS.- 2.3.2 SOI - Silizium auf Isolator.- 2.3.3 Galliumarsenid.- 3 Semicustom-Schaltungen.- 3.1 Programmierbare Logikschaltungen (PLD).- 3.1.1 PLD-Architektur und Technologie.- 3.1.2 Bausteine mit zwei programmierbaren Ebenen (PLA).- 3.1.3 Bausteine mit einer programmierbaren Ebene (PAL).- 3.1.4 Programmierbare Makro-Logik (PML).- 3.1.5 Programmierbare Zellen-Arrays (LCA).- 3.2 Gate Arrays.- 3.2.1 Grundsätzlicher Aufbau.- 3.2.2 Hard- und Softmakros.- 3.2.3 Signalverarbeitungsgeschwindigkeit.- 3.2.4 Entwurfsphasen.- 3.3 Standardzellen-Design.- 3.3.1 Chipaufbau.- 3.3.2 Eigenschaften.- 3.3.3 Weiterentwicklungen.- 3.4 Vergleich aus Anwendersicht.- 4 CAD-Werkzeuge.- 4.1 Hilfen für Machbarkeitsstudie und Systementwurf.- 4.2 Unterstützung beim Schaltungsentwurf.- 4.2.1 Eingabe von Schaltplänen.- 4.2.2 Logiksynthese.- 4.2.3 Blockgeneratoren.- 4.2.4 Logiksimulation.- 4.2.5 Test.- 4.2.6 Plazierung und Verdrahtung.- 4.3 Übergabeformate für CAD-Daten.- 4.3.1 VDHL.- 4.3.2 EDIF.- 4.3.3 CIF.- 4.4 Rechenanlagen für CAD.- 4.5 Auswahlkriterien für CAD-Systeme.- 5 Design-Ablauf.- 5.1 PLD-Design.- 5.2 Gate Array- und Standardzellen-Design.- 5.2.1 Schnittstelle Anwender/Hersteller.- 5.2.2 Schaltungs-Design.- 5.2.2.1 Gate Count.- 5.2.2.2 Hinweise zur Testbarkeit.- 5.2.2.3 Aufbau interner Busse.- 5.2.2.4 Zeitkritische Pfade.- 5.2.3 Netzwerkeingabe.- 5.2.4 Simulation.- 5.2.5 Fehlersimulation in der Praxis.- 5.3 Gehäuseipauformen.- 6 Test von Semicustom-Schaltungen.- 6.1 Motivation für das Testen.- 6.1.1 Testarten.- 6.1.2 Fehlermodelle.- 6.1.3 Fehlerabdeckung und Defektrate.- 6.2 Entwicklung von Testmustern.- 6.2.1 Fehlersimulation.- 6.2.2 Automatische Testmuster-Generierung.- 6.2.3 Test-Regeln.- 6.3 Testfreundlicher Schaltungsentwurf.- 6.3.1 Allgemeine Maßnahmen.- 6.3.2 Scan-Techniken.- 6.3.3 Selbsttest.- bl]o.